Vista normal Vista MARC Vista ISBD

Relibility and failure of electronic materials and devices

por Milton Ohring
Autores adicionais: Ohring , Milton
Publicado por : Academic Press , 1998 Detalhes físicos: XXI, 692 p. 24 cm ISBN:0-12-524985-3.
Tipo de documento Localização Cota Estado Data de devolução
Monografia Biblioteca da ESTiG-IPB
Sala de Leitura
621.38-1/OHR/REL (Ver prateleira) Disponível

Não há comentários disponíveis sobre este título.

Entre na sua conta para publicar um comentário.

Powered by Koha